快照式高光譜成像儀有哪些類別?
發(fā)布時間:2023-11-03
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高光譜成像儀?按照其成像方式的不同,可分為掃描型和快照式兩大類。其中快照式高光譜成像儀無需掃描,能夠一次性獲取目標(biāo)物體包括一維光譜信息在內(nèi)的全部信息。該類儀器系統(tǒng)內(nèi)部不存在移動部件或其他動態(tài)調(diào)節(jié)組件,抗干擾能力強(qiáng),且成像速度快,因此適用于移動速度較快的目標(biāo)物體,并且可以達(dá)到實(shí)時監(jiān)測的目的。那么,快照式高光譜成像儀有哪些類別?
高光譜成像儀按照其成像方式的不同,可分為掃描型和快照式兩大類。其中快照式高光譜成像儀無需掃描,能夠一次性獲取目標(biāo)物體包括一維光譜信息在內(nèi)的全部信息。該類儀器系統(tǒng)內(nèi)部不存在移動部件或其他動態(tài)調(diào)節(jié)組件,抗干擾能力強(qiáng),且成像速度快,因此適用于移動速度較快的目標(biāo)物體,并且可以達(dá)到實(shí)時監(jiān)測的目的。那么,快照式高光譜成像儀有哪些類別?
快照式高光譜成像儀主要的實(shí)現(xiàn)方式是將目標(biāo)物體的三維數(shù)據(jù)立方體以降維的方式呈現(xiàn)在探測器上,然后再利用重建算法將探測器上得到的數(shù)據(jù)還原成目標(biāo)物體的空間和光譜信息。目前該類儀器研究的方向主要有計(jì)算光譜成像、基于微透鏡陣列以及計(jì)算層析型高光譜成像等三大類。
計(jì)算光譜成像:
計(jì)算光譜成像技術(shù)是快照式光譜成像技術(shù)的一種,該類技術(shù)與傳統(tǒng)色散型高光譜成像技術(shù)有相似之處,但與之相比,其獨(dú)特之處在于引入了特殊形式的二維編碼模板。計(jì)算光譜成像技術(shù)利用二維編碼模板對目標(biāo)物體二維空間信息進(jìn)行調(diào)制,利用色散元件對一維光譜信息進(jìn)行重新分布,而后利用壓縮感知原理對由探測器獲得的二維混疊圖像進(jìn)行數(shù)據(jù)重建,最終得到目標(biāo)物體的三維數(shù)據(jù)立方體。
計(jì)算機(jī)光譜成像系統(tǒng)主要由成像透鏡、二維編碼模板、準(zhǔn)直透鏡、色散元件、再成像透鏡以及CCD等組成。目標(biāo)物體經(jīng)過成像透鏡成像于二維編碼模板處,二維編碼模板對目標(biāo)物體二維空間信息進(jìn)行調(diào)制,經(jīng)調(diào)制后的信息經(jīng)準(zhǔn)直鏡準(zhǔn)直后到達(dá)色散元件處,色散元件對一維光譜信息進(jìn)行重新分布,發(fā)生色散后的光線經(jīng)再成像透鏡聚焦在探測器平面上,最終得到經(jīng)編碼、調(diào)制后的二維混疊圖像。由于該類儀器用編碼模板取代了狹縫,因此其較傳統(tǒng)色散型高光譜成像儀而言,提高了系統(tǒng)的光通量、光譜分辨率和信噪比。
基于微透鏡陣列成像:
基于微透鏡陣列的快照式高光譜成像儀,其結(jié)構(gòu)遵循分光瞳(光瞳,即孔徑光闌的像)的思想,該類儀器最突出的特點(diǎn)就是通過前置望遠(yuǎn)系統(tǒng)將目標(biāo)物體的入射光轉(zhuǎn)化成平行光后均勻的分散到微透鏡陣列的每一個子透鏡上。該技術(shù)原理簡單,實(shí)現(xiàn)方式眾多,例如Michael W.Kudenov等人提出的利用旋轉(zhuǎn)威爾遜棱鏡與微透鏡陣列相互配合,最終獲取等光程差間距的干涉序列圖像;2011年 Robert T.Kester等人提出的首先利用圖像映射器將目標(biāo)物體全部信息傳遞給分光棱鏡組、再利用微透鏡陣列將分光后的信息聚焦于探測器上,最終得到目標(biāo)三維信息。
計(jì)算層析型成像(CTIS):
計(jì)算層析型成像光譜(CTIS)技術(shù)產(chǎn)生于20世紀(jì)90年代,該技術(shù)將計(jì)算機(jī)斷層掃描技術(shù)應(yīng)用于光譜成像技術(shù)中,將目標(biāo)圖像的數(shù)據(jù)立方體視作三維物體,沿著一個或者多個方向投影到探測器上,再根據(jù)數(shù)據(jù)立方體與獲得的投影圖像之間的關(guān)系,選擇合適的重建算法重構(gòu)出目標(biāo)物體的三維數(shù)據(jù)立方體。計(jì)算層析成像光譜儀系統(tǒng)內(nèi)部無運(yùn)動部件,性能穩(wěn)定,具有全視場性,能夠保證較高的光通量及光能利用率,能夠快速環(huán)境,因此具有很高的研究價(jià)值。準(zhǔn)確地獲取目標(biāo)物體的二維空間信息和一維光譜信息,并且能夠適用于各類檢測。
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